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光學(xué)熱膨脹儀比傳統膨脹儀相比的優(yōu)勢盡在本篇
更新時(shí)間：2022-06-24 點(diǎn)擊次數：3240
光學(xué)熱膨脹儀采用陰影光的方法進(jìn)行樣品測定。通過(guò)測量CCD探測器上樣品的陰影來(lái)測量一個(gè)方向上樣品的尺寸的大小。
高強度的LED光束發(fā)出平面光，通過(guò)一個(gè)擴散單元和準直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。
有陰影的光束通過(guò)遠心光學(xué)系統進(jìn)行精細處理，并由高分辨率的CCD探測器記錄。數字邊緣檢測自動(dòng)確定陰影的寬度，進(jìn)而測定樣品的尺寸。
與傳統膨脹儀相比，光學(xué)熱膨脹儀采用聚焦LED光束，樣品的平面性及表面粗糙度不會(huì )對測量精度造成顯著(zhù)影響，這樣能夠顯著(zhù)簡(jiǎn)化樣品制備過(guò)程。儀器使用非接觸式測量，允許樣品自由膨脹及收縮，不會(huì )受到機械接觸引起的干擾。
光學(xué)熱膨脹儀的性分析如下：
因為沒(méi)有直接施加負載到樣品上，因此即便是柔軟的材料也可以獲得的測量精度。
包括薄膜，或質(zhì)地柔軟測量或在實(shí)驗過(guò)程中發(fā)生軟化的材料。
由于與測量系統無(wú)物理接觸，進(jìn)一步提高了溫度均勻性。頂桿可以作為散熱件，在與樣品接觸點(diǎn)處產(chǎn)生熱點(diǎn)或冷點(diǎn)。而DIL806是沒(méi)有這些接觸點(diǎn)，確保了整個(gè)樣品在整個(gè)實(shí)驗過(guò)程中溫度的均勻，無(wú)需考慮實(shí)驗中的溫度分布。
廣泛的測量面積大大簡(jiǎn)化了樣品位置。儀器的測量面積，寬30毫米，在這個(gè)范圍內的任何位置放置樣品，儀器均能表現出的工作性能。這樣就簡(jiǎn)化了樣品裝載，去除樣品位置的嚴格限制。
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